Fuhrer, Hellerstedt和Edmonds开发了世界上独特的技术来测量材料薄膜在分子豆外延(MBE)生长期间以及生长后的电学性质，如电阻率和霍尔效应，而不需要将样品从真空中移除。这允许研究奇异的材料，可能是不稳定的从真空中去除。目前的技术使用毫米长度的电子设备。然而，许多有趣而奇特的量子输运现象，如弹道输运和自旋场效应晶体管，都需要微米甚至纳米长度尺度的器件才能观测到。这个项目有两个目标:
(1)开发制造技术，使这些器件小型化，同时仍然保持清洁的基板表面，能够生长高质量的MBE薄膜。该项目的这一部分将利用墨尔本中心的纳米制造设施，如光刻、金属沉积和原子层沉积，以及Fuhrer实验室的电子束光刻。
(2)在Fuhrer实验室使用低温扫描隧道显微镜和MBE系统对这些小型化设备进行MBE薄膜生长和传输测量。
主管:Michael Fuhrer教授，Mark Edmonds博士，本特·韦伯博士，杰克·赫勒斯泰特博士
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